"> Рентгенов фотоелектронен спектрометър | IGIC BAS

Рентгенов фотоелектронен спектрометър

Лице за контакт:

доц. д-р Красимир Костов
ел. поща: klkostov@svr.igic.bas.bg
тел. 02979 2536

AXIS Supra (Kratos Analytical LTd.)

Свръхвисоковакуумна апаратура AXIS Supra (Kratos Analytical LTd.) за рентгенова фотоелектронна спектроскопия (XPS) анализираща  концентрациите и валентните състояния на атомите изграждащи повърхностните слоеве на твърдите тела. Този метод е недеструктивен и е широко използвана техника за анализ на повърхността на тънки филми, катализатори, полупроводници, диелектрични материали, сензори и др.

Оборудван е с монохроматични AlKα и AgLα рентгенови източници с енергия на фотоните 1486.6 eV и 2984.3 eV; ахроматични AlKα и МgКα рентгенови източници с енергия на фотоните 1486.6 eV и 1253.6 eV; система за неутрализация на зареждането на повърхността; почистване на повърхности с йонна бомбандировка (с Ar+ йони). Има възможности за изследване в дълбочина на пробите (до около 100 nm) и за анализ под различни ъгли спрямо повърхността.

Получените спектрални данни за повърхностната електронна структура на изследваните материали се обработват чрез фирмена компютърна програма ESCApe (Kratos Analitycal Ltd.), като освен атомните концентрации се извършва и разлагане на сложни спектри на отделни компоненти според различните валентни състояния