Трансмисионен електронен микроскоп

Трансмисионната електронна микроскопия позволява, макар и като локален метод изследване на структурата, морфологията, фазовия състав, дефекти като дислокации и др. Поради изключително високата резолюция на получените изображения ТЕМ е незаменим за задълбочени изследвания на структурата на различни материали. Получават се изображения в режим висока резолюция (HRTEM), което позволява заснемане на атомната структура на пробата. Също така чрез техниката Електронна дифракция в селектирана област (SAED), се определя кристалната структура и типа вещество в дадена област от образеца. Характеристиките на ТЕМ HR STEM JEOL JEM 2100 са: ускоряващо напрежение 200 kV, максимална разделителна способност 0.23 nm между две точки и 0.14 nm в решетка, максимално увеличение до 1.5 млн. пъти за конвенционална и 2 млн. пъти за сканираща трансмисионна електронна микроскопия, с 5 основни режима на работа – светлополева и тъмнополева микроскопия, дифракция от избрана и от нано-размерна област и дифракция в сходящ сноп. Оборудван е с CCD камера GATAN.